ČESKÁ NORMA

ICS 31.200

Srpen 1997

Kmenová specifikace:
Monolitické integrované obvody

ČSN
EN 19 0000

35 9750

 

 

 

Generic Specification: Monolithic integrated circuits

Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques

Fachgrundspezifikation: Monolitische integrierte Schaltungen

 

Tato norma je identická s EN 190000:1995.

This standard is identical with EN 190000:1995.

 

Národní předmluva

 

Citované normy

ISO 1000 dosud nezavedena

IEC 27-1 zavedena v ČSN IEC 27-1 Písmenné značky používané v elektrotechnice. Část 1: Všeobecně (33 0100)

IEC 50 postupně zaváděna v souboru ČSN IEC 50 Mezinárodní elektrotechnický slovník (33 0050)

IEC 68 se skládá z jednotlivých částí, postupně zaváděných do souborů ČSN 34 5791, ČSN IEC 68 Elektrotechnické a elektronické výrobky. Základní zkoušky vlivu vnějších činitelů prostředí a ČSN EN 60068 Zkoušení vlivů prostředí (34 5791)

IEC 134 dosud nezavedena

IEC 148 nezavedena, nahrazena souborem IEC 748, zavedeným v souboru ČSN IEC 748 Polovodičové součástky. Integrované obvody (35 8798)

IEC 191 postupně zaváděna v souboru norem ČSN IEC 191 Rozměrová normalizace polovodičových součástek (35 8791)

IEC 617 zavedena v souboru ČSN IEC 617 Značky pro elektrotechnická schémata (01 3390)

IEC 617-12 zavedena v ČSN IEC 617-12 Značky pro elektrotechnická schémata. Část 12: Binární logické prvky (01 3390)

IEC 617-13 zavedena v ČSN IEC 617-13 Značky pro elektrotechnická schémata. Část 13: Analogové logické prvky (01 3390)

IEC 747 zavedena v souboru ČSN IEC 747 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody (35 8797)

IEC 747-1 zavedena v ČSN 35 8797-1 IEC 747-1 Polovodičové součástky. Diskrétní součástky a integrované obvody. Část 1: Všeobecně

IEC 747-10 zavedena v ČSN IEC 747-10 Polovodičové součástky. Část 10: Kmenová specifikace pro diskrétní součástky a integrované obvody (35 8797)

IEC 748 zavedena v souboru ČSN IEC 748 Polovodičové součástky. Integrované obvody (35 8798)

IEC 748-1 zavedena v ČSN IEC 748-1 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 1: Všeobecná ustanovení (35 8798)

IEC 748-2 zavedena v ČSN IEC 748-2 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 2: Číslicové integrované obvody (35 8798)

 

Ó Český normalizační institut, 1997


21879

Strana 2

IEC 748-3 zavedena v ČSN IEC 748-3 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 3: Analogové integrované obvody (35 8798)

IEC 748-4 zavedena v ČSN IEC 748-4 Polovodičové součástky. Integrované obvody. Část 4: Stykové integrované obvody (pro rozhraní) (35 8798)

IEC 749 zavedena v ČSN IEC 749 Polovodičové součástky. Mechanické a klimatické zkoušky (35 8799)

CECC 00 007:1973 nezavedena (doporučení CECC je dostupné v Českém normalizačním institutu, úsek informatiky, Praha 1, Biskupský dvůr 5)

CECC 00 114:1992 nezavedena (doporučení CECC je dostupné v Českém normalizačním institutu, úsek informatiky, Praha 1, Biskupský dvůr 5)

 

Obdobné mezinárodní, regionální a zahraniční normy

NEN-EN 190000:1995 Hoofdspecificatie. Monolitische geintegreerde schakelingen (Kmenová specifikace. Monolitické integrované obvody)

 

Vypracování normy

Zpracovatel: TESLA SEZAM, a. s., Rožnov pod Radhoštěm, IČO 15503402 - Ing.Dagmar Balášová

Technická normalizační komise: TNK 102 Součástky a materiály pro elektroniku a elektrotechniku

Pracovník Českého normalizačního institutu: Ing.Zuzana Nejezchlebová, CSc.


Strana 3

EVROPSKÁ NORMA

EN 190000

EUROPEAN STANDARD

Červen 1995

NORME EUROPÉENNE

EUROPÄISCHE NORM

 

Nahrazuje CECC 90 000:1990

 

Deskriptory: Quality, electronic components, monolithic integrated circuits

 

Kmenová specifikace: Monolitické integrované obvody

 

Generic Specification: Monolithic integrated circuits

Spécification générique: Circuits intégrés monolithiques

Fachgrundspezifikation: Monolitische integrierte Schaltungen

 

Tato evropská norma byla schválena CENELEC 1992-11-28. Členové CENELEC jsou povinni splnit Vnitřní předpisy CEN/CENELEC, v nichž jsou stanoveny podmínky, za kterých se této evropské normě bez jakýchkoli modifikací uděluje status národní normy.

 

Aktualizované seznamy a bibliografické citace týkající se těchto národních norem lze vyžádat v Ústředním sekretariátu nebo u kteréhokoliv člena CENELEC.

 

Tato evropská norma existuje ve třech oficiálních verzích (anglické, francouzské, německé). Verze v každém jiném jazyce přeložena členem CENELEC do jeho vlastního jazyka, za kterou zodpovídá a kterou notifikuje Ústřednímu sekretariátu, má stejný status jako oficiální verze.

 

Členy CENELEC jsou národní elektrotechnické komitéty Belgie, Dánska, Finska, Francie, Irska, Islandu, Itálie, Lucemburska, Německa, Nizozemska, Norska, Portugalska, Rakouska, Řecka, Spojeného království, Španělska, Švédska a Švýcarska.

 

CENELEC

 

Evropská komise pro normalizaci v elektrotechnice

European Committee for Electrotechnical Standardization

Comité Européen de Normalisation Electrotechnique

Europäisches Komitee für Elektrotechnische Normung

 

Ústřední sekretariát: rue de Stassart 35, B-1050 Brussels


Strana 4

Předmluva

 

Tato evropská norma byla vypracována pracovní skupinou CLC/TC CECC/WG 9 „Integrované obvody".

 

Text návrhu vycházející z CECC 90 000:1990 (4. vydání) a dokumentů CECC(Secretariat)2739, 2740, 2741, 2567, 2565, 2570, 2644, 2668, 2669, 2566, 2645, 2646 a 3117 byl rozeslán k formálnímu hlasování. Společně se zprávami o hlasování rozeslanými v dokumentech CECC(Secretariat)3187, 2632, 2631, 2674, 2784, 2790, 3189, 2726, 2785, 2786 a 3251 byl 1992-11-28 schválen jako EN 190000.

 

Tato evropská norma nahrazuje CECC 90 000:1990.

Byla stanovena následující data:

- nejzazší datum zavedení EN na národní úrovni vydáním

identické národní normy nebo vydáním oznámení

o schválení k přímému použití jako normy národní                          (dop) 1996-01-11

- nejzazší datum pro zrušení národních norem, které jsou

s EN v rozporu                                                                                (dow) 2004-01-11

 

Obsah

 

strana

 

 

 

1

Předmět normy a rozsah platnosti

7

2

Všeobecně

7

2.1

Pořadí priorit

7

2.2

Normativní odkazy

7

2.3

Jednotky, značky a terminologie

8

2.3.1

Všeobecně

8

2.3.2

Základní termíny pro integrované obvody

8

2.4

Standardní a přednostní hodnoty

8

2.5

Značení součástky a její balení

8

2.5.1

Identifikace vývodů

9

2.5.2

Identifikační kód továrny

9

2.5.3

Opatření pro elektrostaticky citlivé součástky

9

2.5.4

Volitelné zkoušky

9

2.5.5

Umístění symbolů značení

9

2.6

Informace pro objednávání

10

3

Postupy pro stanovení jakosti

11

3.1

Počáteční fáze výroby a subdodávky

11

3.2

Postupy při strukturální podobnosti

11

3.2.1

Všeobecná pravidla

11

3.2.2

Kritéria pro strukturální podobnost, závislá na zkouškách

12

3.3

Postup pro kvalifikační schválení

15

 

 

 

3.3.1

Definice výrobní dávky a kontrolní dávky

15

3.3.2

Postup schvalování

16

3.3.3

Podstatné změny

17

3.3.4

Příklady podstatných změn

17

3.4

Kontrola shody jakosti

18


Strana 5

3.4.1

Rozdělení do skupin a podskupin

18

3.4.2

Zkoušky při kontrole jakosti

18

3.4.3

Výběrové postupy pro malé dávky

18

3.4.4

Doplňkový postup pro zmírněnou kontrolu

18

3.4.5

Znovu předkládané zamítnuté dávky

19

3.4.6

Certifikované protokoly o zkouškách

19

3.4.7

Opožděná dodávka

19

3.4.8

Dodávka součástek, které prošly destruktivními nebo nedestruktivními zkouškami

19

3.4.9

Doplňkový postup pro dodávky

19

3.4.10

Doplňující informace

19

3.5

Schválení způsobilosti

19

3.6

Kontrolní požadavky

28

3.7

Statistické řízení procesu (SPC)

28

4

Zkušební a měřicí postupy

28

4.1

Normální podmínky zkoušení

28

4.1.1

Normální porovnávací klimatické podmínky

28

 

 

 

4.1.2

Normální klimatické podmínky arbitrážních zkoušek

28

4.1.3

Normální klimatické podmínky zkoušení

29

4.1.4

Normální klimatické podmínky elektrických měření

29

4.1.5

Normální podmínky aklimatizace po zkoušce

29

4.2

Vizuální kontrola

29

4.2.1

Vnitřní vizuální kontrola (kontrola před zapouzdřením)

29

4.2.2

Vnější vizuální kontrola

29

4.3

Rozměry

30

4.4

Ponoření do čisticích rozpouštědel

30

4.5

Postupy při elektrických měřeních

31

4.5.1

Mezní hodnoty

31

4.5.2

Rovnovážné podmínky

31

4.5.3

Teplota

31

4.5.4

Opatření

31

4.5.5

Požadavky na měřicí obvody

31

4.5.6

Vícenásobné integrované obvody

32

4.5.7

Nespecifikovaná připojení vývodů

32

4.5.8

Metody elektrických měření

32

4.5.9

Zkouška přechodové energie

32

4.5.10

Korelační měření

33

4.5.11

Připevnění čipů

34

4.5.12

Zavření

35

 

 

 

4.6

Postupy pro zkoušení vlivů prostředí

45

4.6.1

Skladování při vysokých a nízkých teplotách

46

4.6.2

Vlhké teplo konstantní

46

4.6.3

Vlhké teplo

47


Strana 6

4.6.4

Údery

51

4.6.5

Vibrace (sinusové)

51

4.6.6

Vibrace, pevný kmitočet

51

4.6.7

Stálé zrychlení

52

4.6.8

Změna teploty

52

4.6.9

Hermetičnost

53

4.6.10

Pájitelnost vývodů

55

4.6.11

Odolnost součástek proti teplu při pájení

60

4.6.12

Pevnost vývodů a jejich neoddělitelných upevňovacích částí

60

4.6.13

Průmyslová atmosféra

62

4.6.14

Solná mlha

62

4.6.15

Zkouška hořlavosti součástek zapouzdřených v plastu

62

4.6.16

Zkouška vlhkostí způsobující vznik trhlin

62

4.6.17

Tahová zkouška vnitřních drátů

62

4.6.18

Zkouška pevnosti čipu střihem

62

4.7

Definice os pro mechanické zkoušky

65

4.8

Zkoušení elektrické trvanlivosti

66

4.8.1

Všeobecné podmínky

66

 

 

 

4.8.2

Zkušební teplota a doba trvání zkoušky

67

4.8.3

Provozní režimy a zvláštní podmínky pro zkoušení

67

4.8.4

Počáteční a závěrečné zkoušky

67

4.9

Zrychlené zkušební postupy

67

4.9.1

Požadavky na vhodnost při periodických zkouškách

67

4.9.2

Tepelně zrychlené zkoušky elektrické trvanlivosti

67

4.9.3

Úroveň aktivační energie pro tepelně zrychlené zkoušky

69

4.10

Třídění

70

4.10.1

Třídicí postupy

71

4.10.2

Popis třídění a zkoušek

72

4.10.3

Stanovené podmínky

75

 

 

 

Příloha A (normativní) Vnitřní vizuální kontrola a alternativní metoda

76

Příloha B (normativní) Porovnání dokumentů IEC a CECC (postupy pro zkoušky vlivu prostředí a zkoušky trvanlivosti)

124

Příloha C (normativní) Schválení způsobilosti

127

Příloha D (normativní) Pokyn pro zpracovatele specifikace pro CQC

139

Příloha E (normativní) Pokyn pro použití postupů strukturální podobnosti, popsaných v 3.2

140

Příloha F (normativní) Statistické řízení procesu (SPC)

144

Příloha G (normativní) EQML pro integrované obvody

151

 

 

 


Strana 7

1  Předmět normy a rozsah platnosti

 

Tato specifikace stanoví termíny, definice, značky, zkušební metody a další materiál pro monolitické integrované (mikro) obvody (*), definované v IEC 747, nezbytné pro vypracování příslušných předmětových specifikací (DS) v systému CECC. V jednotlivých specifikacích jsou uvedeny doplňkové požadavky pro jednotlivé rodiny integrovaných mikroobvodů.

 

-- Vynechaný text --